HIOKI RM3542 微電阻計

描述

適用於極小電子元件的電阻測量
最適用於自動設備的電阻計，可測量極小電子元件

• 實現了自動化系統中所要求的速度和高精度
• 雙重檢查功能保證準確接觸，實現可靠性測試
• 可用於積體電路片電感器和EMC對應零件的低能耗電阻測量
• 可用於製造工程中手動的抽樣檢查

借助接觸改善功能，快速確保可靠接觸

與測試物接觸時，可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢，改善接觸狀態。透過改善接觸不良實現穩定的測量，而且能降低接觸錯誤率，從而提高生產效率。

透過積分時間設定功能減少測量時間，實現更穩定的測量

根據需要為每個範圍設定積分時間-縮短以縮短節拍時間，或者延長以提高檢查的穩定性。