HIOKI IM3570 阻抗分析儀

IM3570將用於線圈、電容、壓電元件等電子零部件生產線上的檢查,另外還適用於大學和企業研究部門的開發方面。

阻抗分析儀是什麽?

阻抗分析儀是以讓測量頻率和測量電壓連續變化的同時,掃描測量被測物的特性爲主要功能。可用於如線圈、變壓器、電容、壓電元件的開發和檢查等用途中。因此,阻抗分析儀對於復蘇中的電子零部件市場,可以說是不可欠缺的測量儀器。
※阻抗:交流電路中電流不容易流通的程度。單位爲Ω。
新産品的特點

1.不同測量條件下,1台進行高速測量
測量電容等零部件時,有時在不同條件下(頻率、電平)測量多種測量專案,1條生產線中需要多台測量儀器。IM3570可再不同測量條件下進行高速連續測量,1台儀器即可滿足所有要求。

2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號相比)
和HIOKI的以往型號(3532-50)相比,大大縮短了測量時間。LCR模式下,以往機型一般需要5ms的測量時間,而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數檢查電子零部件的生產線中,IM3570發揮了作用。

3.測量的反復精度提高了1位(※1mΩ,100次測量時)
功能性高分子電容在推進低ESR化的同時,要求正確測量多個mΩ。IM3570在測量低阻抗時的精度比以往機型提高了1位,因此爲用戶提供穩定測量。

4.廣範圍的測量頻率
IM3570可在DC和4Hz~5Hz的範圍內設置5位解析度的頻帶(1kHz以下爲0.01Hz解析度)。可在接近共振頻率的測量和工作條件的狀態下進行測量和評價。

5.15種測量參數
可測量Z、Y等15種參數,並將需要的參數讀取至電腦中。

6.具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測量、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態下測量的情況,因此可以避免出現未檢查的産品出廠。

7.廣範圍的測量電壓/電流
外加一般的開路信號發生,可在恒壓/恒流模式下進行考慮到電壓/電流依存性的測量。可設置廣範圍的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測量信號電平。

8. 測試線可延長至4m
4端子的構造可降低測試線的影響,測試線長達4m仍可保證精度。從而便於自動設備的配線。

  • LCR, DCR, sweep, and continuous measurement with high-speed testing in a single unit
  • Maximum test speeds of 1.5ms (1 kHz) and 0.5ms (100kHz) in LCR mode
  • High basic accuracy of Z parameter: ±0.08%
  • Ideal for testing the resonance characteristics of piezoelectric elements, C-D and low ESR measurement of functional polymer capacitors, DCR and L-Q measurement of inductors (coils and transformers)
  • Perform frequency sweeps, level sweeps, and time interval measurements in analyzer mode
  • Support for high-speed switching of measurement conditions

HIOKI IM3570 spec

  • 下載 PDF 檔案HIOKI IM3570 阻抗分析儀英文型錄

Related Products